【活动安排】

时间：2024年6月21日（周五）上午9：00-11：30

地点：知行楼B114实验室

【内容】

1.样品制备及上样说明

2.仪器软件操作演示

3.实际样品TEM下常规测试过程讲解

【设备介绍】

可实现纳米材料透射像（明场、暗场和高分辨像）观察；选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析；固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析；配合能谱仪可以对样品元素进行定性分析。

具体配置如下：

品牌型号：日本电子JEM-2100PLUS

电子枪：LaB6（六硼化镧）

点分辨率：0.19 nm

线分辨率：0.14 nm

加速电压：200 kv

真空度：优于2×10^-5Pa

放大倍数（高倍）： 2000x ~ 1.5 Mx

放大倍率误差：小于±10%

Gatan CMOS相机

牛津Xplore系列EDS探测器

【温馨提示】

请有测试需求的课题组派一名学生代表参加。

当天有测样需要的，可提前联系平台老师沟通后制好样品前来。

请扫描二维码，填写信息报名，报名截至6月20日16：30。

联系方式：

电镜影像专业分析平台严老师，闫老师0510-87667031