Zeta电位及纳米粒度仪-东氿校区
发布日期:2024-03-04来源:分析测试中心文:贺瓶 审核:张爽
Zeta电位及纳米粒度仪 |
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性能指标 |
1.激光器:40mW光泵半导体固体激光器。2.检测器:高灵敏度雪崩型二极管(APD),量子效率QE大于70%。3.温控:-5-110℃;±0.1℃。4.微流变测量功能:可检测弱结构溶液的粘弹信息。5.与GPC联接功能:可与GPC联接作为动态光散射检测器。6.Zeta电位测量范围:-500mV~500mV。7.测量原理:硬件相位分析光散射PALS。8.电导率范围:0-30 S/m。9.Zeta电位适用粒度范围:0.001-100μm。10.测量范围:0.3nm-10μm。11.粒度测量典型精度: ±1%。12.浓度范围:0.1ppm-40%w/v。 |
主要应用 |
主要用于胶体、纳米材料及蛋白质等生物大分子,如乳液、悬浮液等样品的粒度、Zeta电位及分子量测量,用于表征和评判各种体系的粒径分布、分子大小以及体系稳定性。 |
样品要求 |
体积浓度比≤0.5%,粒度测量范围0.3nm-10μm,有杂质的需提前使用滤膜过滤。应为悬浮液。绿色样品与激光色(红光)互补,慎测。 |
仪器说明 |
采用PALS(相位分析光散射)技术,能够精确测量低电泳迁移率体系,能够较为精准的测量体系的Zeta电位和纳米粒子的粒径 |