性能指标

加速电压：200 kV；电子枪：肖特基型热场发射电子枪；TEM点分辨率：0.23 nm；TEM信息分辨率：0.12 nm；STEM分辨率：0.16 nm；极靴间距：5.4 mm；STEM模式放大倍数：310x~150Mx；能谱分辨率：优于136 eV；EDS固定角：0.9 srad；三维重构样品杆最大倾角：70°。

主要应用

可提供各种材料的形貌、基本结构与成份信息：快速采集形貌图像（高分辨）；选区电子衍射与晶体结构分析；TEM及STEM模式可实现快速切换；配合能谱仪可以对样品元素做点、线、面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析，元素检测范围：B～U元素；利用三维样品杆可以实现TEM、STEM和EDS三维重构。

样品要求

透射电镜不做磁性样品，不含Fe、Co、Ni、Mn及Gd、Tb、Dy、Ho、Er等稀土元素；对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥，能够区分支持膜正反面；对于块体样品，要求样品大小为直径3 mm的圆，厚度为200 nm以下；高分辨样品厚度在10 nm以下。

仪器说明

该仪器广泛应用于化学、材料、食品、生物、物理、医学等学科的分析研究。